SN74LVTH18502APMG4
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SN74LVTH18502APMG4

分类：
制造商：
描述：
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
封装：
包装：
Tray
RoHS：
YES

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规格
零件状态
Obsolete
工作温度
-40°C ~ 85°C
安装类型
Surface Mount
封装 / 外壳
64-LQFP
供应商器件封装
64-LQFP (10x10)
逻辑类型
ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers